信号処理
一次元または二次元の信号データを解析することで有用な情報を取得します．本研究室では，パワーデバイスの一つであるIGBT（Insulated Gate Bipolar Transistor） の，製造過程で得られる一次元信号または画像データからの特徴量を解析し，IGBTの良・不良品判定を行うためのシステムを開発します．また，二次元信号として得られるパワーデバイス超音波画像の画像診断法の開発を行います．
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