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研究内容

信号処理

一次元または二次元の信号データを解析することで有用な情報を取得します。当研究室では、パワーデバイスの一つであるIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor) の製造過程で得られる一次元信号または画像データから特徴量を解析し、良・不良品判定を行うためのシステムを開発しています。また、二次元信号として得られるパワーデバイスの超音波画像に対する画像診断法の開発を行っています。